進(jìn)行emc測(cè)試要知道的故障排除方法

為了保障產(chǎn)品質(zhì)量，所以在產(chǎn)品進(jìn)入市場(chǎng)之前要進(jìn)行嚴(yán)格標(biāo)準(zhǔn)的emc測(cè)試實(shí)驗(yàn)。就比如單片機(jī)系統(tǒng)的emc測(cè)試是電磁兼容故障排除技術(shù)的新應(yīng)用，能保證設(shè)備在電磁環(huán)境中能正常工作，并且不對(duì)環(huán)境中的其它事物造成不能承受的騷擾。

在測(cè)試過(guò)程中難免會(huì)出現(xiàn)各種各樣的問(wèn)題，但是要怎么樣來(lái)避免和排除這些出現(xiàn)的故障也是測(cè)試過(guò)程中非常重要的。

emc測(cè)試方法一般分為4類(lèi)；傳導(dǎo)發(fā)射測(cè)試、輻射發(fā)射測(cè)試、傳導(dǎo)敏感度（抗擾度）測(cè)試和輻射敏感度（抗擾度）測(cè)試。所以在emc測(cè)試之前要明確要測(cè)試的項(xiàng)目是屬于哪一類(lèi)測(cè)試，在進(jìn)行下一步，這邊謎底明確就可以大大減少emc測(cè)試過(guò)程中會(huì)出現(xiàn)的故障。

要提前做好emc測(cè)試的準(zhǔn)備，首先要選好測(cè)試用的實(shí)驗(yàn)場(chǎng)地，emc測(cè)試的實(shí)驗(yàn)室分為電波半暗室和屏蔽室兩種。電波半暗室適用于輻射發(fā)射和輻射敏感度測(cè)試的，屏蔽室是用于傳導(dǎo)發(fā)射和換到敏感度測(cè)試的。還要對(duì)測(cè)試環(huán)境中的電平嚴(yán)格要求，傳導(dǎo)和輻射的電磁環(huán)境電平要低于標(biāo)準(zhǔn)規(guī)定的極限值。

要準(zhǔn)備好實(shí)驗(yàn)桌，測(cè)試設(shè)備和被測(cè)試的設(shè)備要做好安全的隔離等等。做好這些基礎(chǔ)的測(cè)試前的準(zhǔn)備，能大大減少在emc測(cè)試中故障的出現(xiàn)。還有一些故障是不能提前預(yù)防的，在測(cè)試中電磁兼容設(shè)備如果出現(xiàn)故障，那么就要以快的、好的方法減少對(duì)設(shè)備的損壞，首先要進(jìn)行傳導(dǎo)性問(wèn)題的解決。

可以通過(guò)串聯(lián)一個(gè)高阻抗來(lái)減少BMI電流，并聯(lián)一個(gè)低阻抗將BMI電流引流到其它導(dǎo)體中。還可以通過(guò)電流隔離切斷BMI電流，或者通過(guò)自身作用還抑制BMI電流。

以上就是一些emc測(cè)試排除故障的方法。