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      開關(guān)電源EMC知識(shí)總匯

      更新時(shí)間:2022-04-15      點(diǎn)擊次數(shù):1940

      EMC 發(fā)展的歷史:EMC 其實(shí)是伴隨著近代電子產(chǎn)業(yè)的飛速發(fā)展而誕生的。到上個(gè)世紀(jì)末,隨著電子、電氣設(shè)備的急劇增加。EMC 已經(jīng)擴(kuò)展到眾多的領(lǐng)域,可以毫不夸張的說:哪里有電子產(chǎn)品,哪里就有EMC問題。西方國(guó)家對(duì)此的要求也越來越苛刻,EMC 已成為發(fā)展中國(guó)家電子產(chǎn)品進(jìn)入西方市場(chǎng)的貿(mào)易壁壘之一。

      對(duì)企業(yè)來講,不同的EMC設(shè)計(jì)概念,會(huì)導(dǎo)致不同的成本和時(shí)間上的浪費(fèi)。

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      EMC的內(nèi)容

      ●基本概念:

      ★EMC(電磁兼容性):Electromagnetic Compatibility

      ★EMI(電磁干擾):Electromagnetic Interference

      ★EMS(電磁抗擾性):Electromagnetic Susceptibility

      ★ESD(靜電):Electrostatic Discharges

      ★RS(輻射抗干擾):Radiated Susceptibility

      ★EFT(電快速瞬變脈沖群):Electronic fast transients

      ★SURGE(雷擊浪涌)

      ★CS(傳導(dǎo)抗干擾):Conducted Susceptibility

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      ●EMC =EMI +EMS

      ★EMI = Conduction( Harmonic) +Radiation

      ★EMI 三要素:下為系統(tǒng)級(jí)的,請(qǐng)大家想想PCB級(jí)的。

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      開關(guān)電源 EMI 探討

      ●EMI 產(chǎn)生的根源:

      ★第一、開關(guān)電源的最大缺點(diǎn)是因切換動(dòng)作(TURN-ON或TURN OFF)產(chǎn)生雜訊電壓為其雜訊源。因切換動(dòng)作的波形為方波,而方波含有很多高次諧波。( dv/dt)

      ★第二、由于開關(guān)電晶體的非線性及二極體的反向恢復(fù)特性,電流作快速的非線性變化引起雜訊。(di/dt)

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      ●EMI的傳播方式和途徑:

      ★EMI干擾信號(hào)按其特性可分為共模信號(hào)(COMMON MODE)和差模信號(hào)(DIFFERENTIAL MODE)。

      ★共模信號(hào):干擾信號(hào)電流的在兩條回路的導(dǎo)線上的電流方向相對(duì)大地是相同的信號(hào),稱為共模信號(hào),見下左圖;

      ★差模信號(hào):干擾信號(hào)電流的在兩條回路的導(dǎo)線上的電流方向相對(duì)大地是相反的信號(hào),稱為差模信號(hào),見下右圖。

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      ●常用低通濾波結(jié)構(gòu)的劃分

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      ●電源輸入濾波器的設(shè)計(jì):

      ★共模差模分開設(shè)計(jì)(以π型為例)


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      ★濾波器共模部分設(shè)計(jì)


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      ★濾波器差模部分設(shè)計(jì)


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      ●濾波器的安裝:


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      ●共模電感的繞制


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      共模扼流圈中的負(fù)載電流產(chǎn)生的磁場(chǎng)相互抵銷,因此磁芯不會(huì)飽和。

      ●磁珠阻抗


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      注意:共模電感和磁珠 需要測(cè)量溫升!!

      EMI 分析舉例

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      Flyback 架構(gòu)EMI 分析

      ●Flyback架構(gòu)的高頻等效模型


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      ●Noise 源:

      大的di/dt和dv/dt 產(chǎn)生的地方,對(duì)Flyback架構(gòu)來說,會(huì)產(chǎn)生這些變化的主要有:

      ★變壓器TX1;

      ★MOSFET Q1 ;

      ★輸出二極管D1;

      ★芯片的RC振蕩;

      ★驅(qū)動(dòng)信號(hào)線;

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      Q1 上 Vds 的波形

      MOSFET 動(dòng)作時(shí)產(chǎn)生的Noise :如 上圖所示,主要來自三個(gè)方面:

      ①M(fèi)osfet開通、關(guān)斷時(shí),具有很寬的頻譜含量,開關(guān)頻率的諧波本身就是較強(qiáng)的干擾源。

      ②關(guān)斷時(shí)的振蕩 1產(chǎn)生較強(qiáng)的干擾。

      ③關(guān)斷時(shí)的振蕩 2產(chǎn)生較強(qiáng)的干擾。

      開關(guān)管 Q1關(guān)斷,副邊二極管D1導(dǎo)通時(shí)(帶載),原邊的勵(lì)磁電感被鉗制,原邊漏感Lep的能量通過Q1的寄生電容Cds進(jìn)行放電,主放電回路為L(zhǎng)ep—Cds—Rs—C1—Lep,此時(shí)產(chǎn)生振蕩振蕩的頻率為:


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      在Lep上的振蕩電壓Vlep迭加在2Vc1上,致使Vds=2Vc1+Vlep 。振蕩的強(qiáng)弱,將決定我們選取的管子的耐壓值、電路的穩(wěn)定性。

      量測(cè)Lep=6.1uH, Q1為2611查規(guī)格書可得Coss=190pF(Coss近似等于Cds),而此充電板為兩個(gè)管子并聯(lián),所以Cds=380pF 。由上式可求得f =3.3 MHz,和下圖中的振蕩頻率吻合。

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      從圖中可看出 此振蕩是一衰減的振蕩波,其初始的振蕩峰值決定于振蕩電路的Q值:Q值越大,峰值就越大。Q值小,則峰值小。為了減小峰值,可減小變壓器的漏感Lep,加大Cds和電路的阻抗R。而加入Snubber電路是 極有效之方法。


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      振蕩2發(fā)生在Mosfet Q1關(guān)斷,副邊二極管由通轉(zhuǎn)向關(guān)斷,原邊勵(lì)磁電感被釋放(這時(shí)Cds被充至2Vc1),Cds和原邊線圈的雜散電容Clp為并聯(lián)狀態(tài),再和原邊電感Lp(勵(lì)磁電感和漏感之和)發(fā)生振蕩。放電回路同振蕩1。振蕩頻率為:


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      在Lp上的振蕩電壓Vlp迭加在Vc1上,致使Vds=Vc1+Vlp 。量測(cè)Lp=0.4mH;Q1為2611,查規(guī)格書可得Coss=190pF(Coss近似等于Cds),而此充電板為兩個(gè)管子并聯(lián),所以Cds=380pF;Clp在200KHz時(shí)測(cè)得為Clp=1.6nF。由上式可求得:f =178.6KHz,和下圖中190.5K吻合。

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      ●我們可實(shí)行的改善措施有兩個(gè):

      ★1、減小Noise的大?。?/span>

      ★2、切斷或改善傳播途徑。

      1.減小Noise 的大小:

      首先考慮以下三個(gè)方面:

      ①M(fèi)osfet、Diode動(dòng)作時(shí),具有很寬的頻譜含量,開關(guān)頻率的諧波本身就是較強(qiáng)的干擾源。

      措施:在滿足所要求的效率、溫升條件下,我們可盡量選開關(guān)較平緩的管子。而通過調(diào)節(jié)驅(qū)動(dòng)電阻也可達(dá)到這一目的。


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      ②Q1、D1 的振蕩 1會(huì)產(chǎn)生較強(qiáng)的干擾。

      措施:

       *對(duì)寄生電容Cds、Cj 的處理:在Q1的ds極、二極管的兩端各并上一681小電容,來降低電路的Q 值,從而降低振蕩的振幅A,同時(shí)能降低振蕩頻率f。需注意的是:此電容的能量1/2Cu2將全部消耗在Q1上,所以管子溫升是個(gè)問題。解決的辦法是使用RC snubber, 讓能量 消耗在 R上。同時(shí)R能起到減小振幅的作用。

      *對(duì)變壓器的漏感Le的處理:

      1、變壓器采用 三明治 繞法,以減小漏感。

      2、在變壓器的繞組上加吸收電路。

      3、減小Q1 D極到變壓器的引線長(zhǎng)度。(此引線電感和漏感相迭加)采取上述 措施降低振蕩 1的影響之后得下圖。

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      ③:Q1 D1 上的振蕩 2 會(huì)產(chǎn)生較強(qiáng)干擾。

      分析方法和②相同,但此時(shí) 電感已變得很大了(主要為為勵(lì)磁電感),因此漏感和引線電感對(duì)③的影響相對(duì)較小。

      同樣從上面的分析中,可看出Nosie 的傳播途徑主要是通過變壓器的雜散電容Ctx;

      Mosfet/Diode到散熱片的雜散電容Cm/Cd;及散熱片到地的雜散電容Ce等途徑而耦合到LISN被取樣電阻所俘獲

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      措施一:在Rs的地端和C2的地間接一個(gè)Y電容(472)。

      原理分析:它的作用是雙重的,一是為Mosfet動(dòng)作產(chǎn)生且串到變壓器副邊的noise 電流(如I4),提供一個(gè)低阻抗的回路,減小到地的電流。二是為二次側(cè)Diode產(chǎn)生的且串到變壓器原邊的noise 電流提供低阻抗回路,從而減小流過LISN的電流。

      其效果如下圖:紅色為:未改善之前;藍(lán)色為:采取措施之后

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      措施二:變壓器加法拉第銅環(huán):

      變壓器是Noise傳播的主要通道之一,其中初級(jí)線圈和次級(jí)線圈間雜散電容Ctx是重要因素。而在變壓器內(nèi)部加法拉第銅環(huán)是減小Ctx 的有效的

      方法之一。

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      圖片圖片

      措施三:散熱片接Rs的地端:

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      目的為了將 散熱片-Ce—地-LISN這一支路 旁路掉,從而減小到地的電流。其效果如下圖:可看出,在低頻時(shí)較有效;在高頻時(shí), 效果不明顯,這主要是因?yàn)樵诟哳l時(shí),管腳直接對(duì)地的電容已有相當(dāng)?shù)淖饔谩?br data-darkmode-bgcolor-16500020614965="rgb(25, 25, 25)" data-darkmode-original-bgcolor-16500020614965="#fff|rgb(255, 255, 255)" style="margin: 0px; padding: 0px; outline: 0px; max-width: 100%; box-sizing: border-box !important; overflow-wrap: break-word !important;"/>

      紅色為:散熱片未接地;藍(lán)色為:散熱片接地

      圖片

      當(dāng)綜合上述所有措施后,EMI總效果對(duì)比如圖所示:

      紅色為:未采取措施前;藍(lán)色為:綜合上述措施后

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      國(guó)際認(rèn)證體系簡(jiǎn)介

      ●歐洲地區(qū) :

      認(rèn)證EMC MarkEMC

      Standard分為EMI (電磁干擾測(cè)試) & EMS (電磁相容測(cè)試) 兩部分:

      ★1. EMI部分為 EN55022, EN61000-3-2, EN61000-3-3;

      ★2. EMS部分為 EN55024 內(nèi)含7項(xiàng)測(cè)試:

      EN55022為Radiation Test & Conduction Test (傳導(dǎo) & 幅射測(cè)試); 

      EN61000-3-2為Harmonic Test (電源諧波測(cè)試); 

      EN61000-3-3為Flicker Test (電壓變動(dòng)測(cè)試)

      EN61000-4-2為ESD Test (靜電測(cè)試); 

      EN61000-4-3為RS Test EN61000-4-4為EFT Test (電子快速脈衝測(cè)試);

      EN61000-4-5為Surge Test (雷擊測(cè)試)

      EN61000-4-6為CS Test (傳導(dǎo)耐受度測(cè)試);

      EN61000-4-8為PFMF Test EN61000-4-11為DIP Test (電壓突降測(cè)試)

      ●美洲地區(qū):

      認(rèn)證EEMI Mark FCC (強(qiáng)制性)

      Standard FCC Part 15 (EMI 電磁干擾測(cè)試)

      申請(qǐng)方式

      1. Class A 自我認(rèn)証

      2. Class B DOC 自我認(rèn)証方式

      3. Class B 經(jīng)由TCB認(rèn)証, 取得FCC ID Number

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